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SN74ABT18245ADGGR

SN74ABT18245ADGGR

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP
型号
SN74ABT18245ADGGR
制造商/品牌
系列
74ABT
零件状态
Active
包装
Cut Tape (CT)
工作温度
-40°C ~ 85°C
安装类型
Surface Mount
封装/箱体
56-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
供应商器件封装
56-TSSOP
电源电压
4.5 V ~ 5.5 V
位数
18
逻辑类型
Scan Test Device with Bus Transceivers
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