SN74ABT8245DWR
IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
型号
SN74ABT8245DWR
制造商/品牌
系列
74ABT
零件状态
Active
包装
Cut Tape (CT)
工作温度
-40°C ~ 85°C
安装类型
Surface Mount
封装/箱体
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
供应商器件封装
24-SOIC
电源电压
4.5 V ~ 5.5 V
位数
8
逻辑类型
Scan Test Device with Bus Transceivers
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