SN74BCT8373ANT
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
型号
SN74BCT8373ANT
制造商/品牌
系列
74BCT
零件状态
Obsolete
包装
Tube
工作温度
0°C ~ 70°C
安装类型
Through Hole
封装/箱体
24-DIP (0.300", 7.62mm)
供应商器件封装
24-PDIP
电源电压
4.5 V ~ 5.5 V
位数
8
逻辑类型
Scan Test Device with D-Type Latches
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