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SN74LVTH182502APM

SN74LVTH182502APM

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
型号
SN74LVTH182502APM
制造商/品牌
系列
74LVTH
零件状态
Active
包装
Tray
工作温度
-40°C ~ 85°C
安装类型
Surface Mount
封装/箱体
64-LQFP
供应商器件封装
64-LQFP (10x10)
电源电压
2.7 V ~ 3.6 V
位数
18
逻辑类型
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
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